干涉法测量薄膜厚度（检查表面的平整度薄膜干涉）

您好,今天帅帅来为大家解答以上的问题。干涉法测量薄膜厚度，检查表面的平整度薄膜干涉相信很多小伙伴还不知道,现在让我们一起来看看吧！

1、原干涉条纹（左侧对应为尖角位置，实线为亮纹，虚线为暗纹， 且假设第二条亮纹对应的垂直位置上物体表面不平整） ： ｜┊｜┊｜┊ （2） 检验条纹（ 物体表面凸起时）｜┊（┊｜┊ （3） 检验条纹（ 物体表面凹陷时） ｜┊）┊｜┊ 原理大致可以理解为，当物体表面凸起时，被薄膜反射出的两列频率相同的光在同一垂直方向上相干（具体内容就不细说了）。

2、 此时垂直方向上两列相干波的相位差恒定，等于这一位置上下两板距离的两倍。

3、 若这一位置的表面凸起，则可认为此位置上两列波的波程差变小了，因此干涉条纹趋向波程差逐渐减小的尖角方向，也就是左侧（具体现象如上图示） 同理，若凹陷则趋向右。

4、 这是别人的解答.。

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